Dr. Schenk GmbH

Partikelinspektion von unbeschichtetem und beschichtetem Glas

Partikelinspektion von unbeschichtetem und metalllisiertem Glas
Partikelinspektion von unbeschichtetem und metalllisiertem Glas

Dr. Schenk ParticleInspect für die Partikelinspektion von Glas dient der schnellen Detektion von Partikeln auf unbeschichtetem Glas und Glas, das mit z.B. ITO, GIN, Cu, A-Si und MO beschichtet ist. Das System kann als eigenständige Lösung (stand-alone) für die Labor-Anwendung oder in als in die Produktionslinie integrierte Lösung erworben werden.

Dr. Schenk ParticleInspect scannt mit hoher Auflösung nach kleinsten Partikeln, wie zum Beispiel:

  • Staub
  • Haaren
  • Fasern
  • anhaftenden Glasplättchen

So können Hersteller die Ursachen von Verschmutzungen ermitteln und vermeiden, bevor es zu großen Verlusten in der Produktion kommt.

ParticleInspect für die Partikelinspektion von Glas kann eindeutig zwischen Partikeln auf der A- und B-Seite unterschieden: ein Vorteil, den nur die Lösung von Dr. Schenk bietet. Das modulare Design ermöglicht die Lieferung vollständiger AOI (automatische optische Inspektion) Lösungen als eigenständige Komponenten oder als angepasste Module für die einfache Integration in bestehende Produktionslinien.

 

 

Partikel 0.3 µm
Partikel 0.3 µm
Partikel 1 µm
Partikel 1 µm
Partikel 3 µm
Partikel 3 µm
Partikel 5 µm
Partikel 5 µm

 

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