Dr. Schenk GmbH

Schichtdickenüberwachung

Mit dieser innovativen Option können PV-Hersteller lokale Dickenabweichungen nach der Schichtaufbringung im gesamten Modulbereich überwachen. Somit trägt sie zur Kontrolle des Beschichtungsprozesses bei.

Hauptmerkmale

  • Selbes Hardware Set-up wie für Fehleranalyse
  • Schichtdickenüberwachung und Inspektion erfolgen zeitgleich
  • Verbesserte Technologie zur Verarbeitung optischer Signale
  • Echtzeit-2D-Visualisierung (siehe Abb.)

Da die Schichtdickenüberwachung Kameras mit hoher Auflösung und geringen Störgeräuschen sowie Hochleistungsbeleuchtungseinheiten mit LEDs für den Betrieb bei ausgewählten Wellenlängen erfordert, wird die Integration dieser Messlösung in das jeweilige Inspektionssystem am besten zu einem möglichst frühen Zeitpunkt geplant. Die Kosten für ein zweites Hardware-Set können somit eingespart werden, wodurch das Inspektionssystem für Solarmodule im wahrsten Sinne des Wortes zu einer allumfassenden Lösung wird.

Für die Schichtdickenmessung, z.B. bei In-Line-Stichproben oder bei Off-Line Laborsituationen, bietet Dr. Schenk alternativ eine Technologie mit einem Weißlichtspektrometer.


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