Die Sirius-Lichttechnologie von Dr. Schenk liefert mehr Licht auf die Materialoberfläche als andere Prüfsysteme. Mehr Licht macht mehr Fehler deutlicher sichtbar.
Dr. Schenks „Multiplex-Technologie“ bildet die Grundlage für MIDA – Multiple Image Defect Analysis. Ein Defekt erzeugt mehrere Bilder für eine umfassende Analyse.